波前分析儀是自適應光學系統(tǒng)zui重要的組成部件之一，決定了自適應光學系統(tǒng)zui終的調制結果。同時波前探測器在激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統(tǒng)的波前像差檢測，虹膜定位像差引導，大口徑高精度光學元器件檢測，平行光管/望遠鏡系統(tǒng)的檢測與裝調，紅外、近紅外探測，激光光束性能、波前像差、M^2、強度的檢測，高精密光學元器件表面質量的檢測等領域發(fā)揮著越來越重要的作用。美國LUMETRICS公司自主研發(fā)的CLAS-2DTM系列波前分析儀（CLAS-2D™ , CLAS-XP™, CLAS-HP™, CLAS- NearIR-320™, CLAS-NearIR-640™）能夠快速、簡單、準確的測量激光光束的波前相位參數(shù)，例如波前傾斜，峰谷誤差，均方根波前誤差，像散，球差，聚焦誤差/準直。

四波剪切干涉技術原理：

　　剪切干涉技術基本原理是將待檢測的激光波前分成兩束，其中的一束相對于另一束橫向產(chǎn)生一些錯位，兩束錯位的光波各自保持完整的待測波前信息，相互疊合后，產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，CCD/CMOS相機會接收干涉圖樣，進行相應的計算分析，從而利用傅立葉變換的相關計算，分析出待測波前的相位分布，以及強度分布等。基于干涉條紋的疏密度敏感于波前的斜率，因此波前傳感器在探測波前的偏離范圍較傳統(tǒng)的哈特曼傳感器具有更大的*性。

      LUMETRICS公司的波前分析儀是集四波橫向剪切干涉儀，光束質量分析儀，自準直儀和四象限探測器為一體的快速、緊湊型波前分析儀器。運用*的算法能夠測量三個波段的波前參數(shù)：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。

波前傳感器的典型應用

　　光在傳輸?shù)倪^程中會經(jīng)過不同的介質，不同的介質由于其構成物質的分布不均勻，從而導致光的波前產(chǎn)生各種各樣的變化，自適應系統(tǒng)便應運而生。作為自適應系統(tǒng)中重要的一環(huán)，波前傳感器的檢測精度，動態(tài)范圍等等因素，都制約著自適應系統(tǒng)zui終的調制結果。由于剪切干涉波前分析儀具有分辨率高，探測精度高，探測速度快，操作簡便，可直接的三維顯示波前畸變的模式等優(yōu)點，目前已經(jīng)得到了廣泛的使用。

波前分析儀特點：

      CLAS-2DTM系列波前分析儀具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等*的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！LUMETRICS波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。

應用范圍：

Ø 激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統(tǒng)波前像差檢測

Ø 激光光束性能、波前像差、M2、強度等的檢測

Ø  紅外、近紅外探測

Ø 平行光管/望遠鏡系統(tǒng)的檢測與裝調

Ø 衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領域

Ø  球面、非球面光學元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡)

Ø  虹膜定位像差引導

Ø 大口徑高精度光學元器件檢測

Ø  激光通信領域

Ø  航空航天領域

      另外, 美國LUMETRICS波前傳感器生產(chǎn)廠家具有雄厚的技術研發(fā)實力，能為客戶提供的各種自適應光學系統(tǒng)OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個性化解決方案?？筛鶕?jù)客戶的應用需求，為客戶推薦zui合適的波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統(tǒng)操作軟件等。

      先鋒科技創(chuàng)建于1995年，是國內的光電產(chǎn)品代理商，代理美國LUMETRICS生產(chǎn)的波前分析儀，我們每年定期安排技術服務工程師去國外參加技術培訓，并購買相應的零配件，力爭做到絕大部分的主流產(chǎn)品可以做到本地化維修，免除由于返回國外造成的時間及物質上的損失。我們將以全體用戶的利益為重，盡我們zui大的努力，為各個領域內的用戶提供的服務。衷心希望得到您們一如既往的支持！