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發(fā)布時(shí)間:2019/3/7
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概念解釋:暗場(chǎng)顯微(英文:Dark-field microscopy)或稱暗視野顯微(英文:Dark ground microscopy)描述光學(xué)顯微和電子顯微中的一種特殊顯微手法,除去觀測(cè)物體以外的光線或電子進(jìn)入物鏡,使目鏡中觀測(cè)到的視野背景是黑的,只有物體的邊緣是亮的。利用這個(gè)方法能見(jiàn)到小至 4~200nm的微粒子,分辨率可比普通顯微法高50倍。
應(yīng)用簡(jiǎn)介
暗場(chǎng)顯微技術(shù)采用光學(xué)顯微鏡結(jié)合特殊的照明和觀察方式,使得只有樣品大角度散射的光能夠進(jìn)入物鏡并被探測(cè)到。采用暗場(chǎng)顯微技術(shù),可以克服常規(guī)光學(xué)顯微(明場(chǎng)照明成像)針對(duì)均一樣品中的微小結(jié)構(gòu)成像時(shí),透射或反射襯度不足的問(wèn)題,使得微小的結(jié)構(gòu)在背景中得以突出呈現(xiàn),特別適合顆粒、纖維、小尺度界面等的觀測(cè)。
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