新款的影像光譜儀-SR193i

產(chǎn)品簡介：

新款的影像光譜儀-SR193i，主動聚焦追蹤，可作為單色儀單獨使用，無縫鏈接顯微鏡，影像校正光學設計，采用超環(huán)面鏡允許多通道光纖探測和出色的成像質(zhì)量通過顯微鏡和0級光柵。

產(chǎn)品型號：SR193i

更新時間：2025-11-07

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：5313

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜相關(guān)

VUV/EUV/X射線光譜儀低溫制冷機氣體分析儀計數(shù)器光源光學斬波器鎖相放大器近紅外光譜儀高分辨率影像光柵光譜儀臺式銣鐘發(fā)生器拉曼/熒光低溫制冷系統(tǒng) 熒光上轉(zhuǎn)換系統(tǒng) 納秒泵浦探測光譜儀熒光光譜測量系統(tǒng) 測量與測試儀器中階梯光柵光譜儀光譜專用CCD 影像光柵光譜儀拉曼光譜測量系統(tǒng)
影像采集

相機定量位相成像 X射線及真空紫外CCD相機 MCP探測器紅外相機科學級sCMOS相機科研級CCD/ICCD相機大靶面CCD X-ray CCD相機高靈敏度EMCCD相機
激光與量測

CODIXX高消光比偏振片動態(tài)干涉儀傳遞函數(shù)(MTF)測試系統(tǒng) 高精度焦點分析儀量子級聯(lián)激光器鏡頭及光學元件測試設備激光波長計氦氖激光器波前分析儀超快激光器氣體激光器連續(xù)激光器 YAG激光器固體激光器激光能量計探頭激光M2因子分析儀可調(diào)諧激光器激光光譜儀
光度色度

照度計手持光譜亮度計膜厚測試產(chǎn)品 VCSEL測試方案頻閃儀醫(yī)用照明測試系統(tǒng) 近場/遠場測量系統(tǒng) 汽車相關(guān)檢測方案均勻光源眩光測試系統(tǒng) 激光粒度儀高靈敏度雙通道光度計 LCD/OLED缺陷自動光學檢測系統(tǒng) 分光輻射亮度計積分球及零件光譜光度/色度/輻射度計棱鏡耦合測試儀
光學器件/探測器

自定義光學計量方案光電倍增管 InGaAs陣列探測器反射鏡一體化X光管紅外探測器帶通濾光片單點探測器線陣探測器面陣探測器光學元件 XRF產(chǎn)品相關(guān) 氣體傳感器
非標自動化

顯示測量車載照明檢測
光電傳感器

微光探測器

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產(chǎn)品介紹

新款的影像光譜儀-SR193i，其有如下典型特點：

1. 自適應聚焦

主動聚焦追蹤，根據(jù)光柵不同的衍射角或者不同的光柵自動調(diào)整聚焦鏡的位置以保證*分辨率
自動聚焦，無需手動調(diào)整，僅需要點下按鈕即可實現(xiàn)的分辨率

2. 帶有RFID技術(shù)的雙光柵塔倫

精密的索引和容易使用的艙口設計，可現(xiàn)場升級
自動的光柵識別和光柵參數(shù)讀取
在軸掃描

3. 193nm焦距，光譜分辨率0.21nm@1200g/mm,500nm；0.1nm@2400g/mm，300nm

4. F/3.6數(shù)值孔徑，高光通量設計適合弱光光譜實驗

5. 影像校正光學設計，采用超環(huán)面鏡允許多通道光纖探測和出色的成像質(zhì)量通過顯微鏡和0級光柵

6. 可作為單色儀單獨使用

通過和單點探測器使用光譜范圍可拓展至12um
可作為可調(diào)諧光源分光器件

7. 雙探測器出口，可以配合ANDOR公司的UV-NIR波長的CCD/EMCCD/ICCD/InGaAs，并可以選擇狹縫組件作為單色儀來使用

8. 銀膜元件選項，在NIR/SWIR波段達到zui高的效率，當配合InGaAs陣列探測器或者PbS，InSb，MCT單點探測器使用時

9. 預調(diào)焦，預校準儀器，出廠時單獨調(diào)教和校準光譜儀和探測器，在用戶香腸拆箱即可使用

10. 無縫鏈接顯微鏡

可調(diào)高度的墊腳以及可供選擇連接光譜儀的直接C口接口，透鏡接口和籠式接口
15mm寬度的動態(tài)狹縫拓展的成像區(qū)域和光譜分析可通過同一光路得到

11. MicroManager軟件整合

同一軟件平臺可同時控制ANDOR相機、光譜儀和大量顯微鏡以及附件
的，容易使用的光譜處理界面

12. 緊湊和堅固的設計，*整合在OEM儀器中和空間有限實驗架構(gòu)中

13. USB接口，即插即用，方便易用

主要應用方向：

l 顯微光譜

l 吸收-反射-透射率

l 熒光和拉曼光譜

l 瞬態(tài)吸收和泵浦探測

l 等離子光譜診斷

l LIBS

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新款的影像光譜儀-SR193i，主動聚焦追蹤，可作為單色儀單獨使用，無縫鏈接顯微鏡，影像校正光學設計，采用超環(huán)面鏡允許多通道光纖探測和出色的成像質(zhì)量通過顯微鏡和0級光柵。

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