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X-ray CCD相機
勞厄單晶取向測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號:
更新時間:2025-11-08
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:3311
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勞厄單晶取向測試系統(tǒng):
水平放置系統(tǒng)

特征 | 優(yōu)點 |
<200um 光束尺寸 | 可測量小 晶體 |
電動位移臺 | 可沿生長軸軸向掃描 |
電動角位移 | 與同步加速器/中子設(shè)備直接兼容 |
手動角位移 | 與切割刀具直接兼容 |
垂直放置系統(tǒng)
特征 | 優(yōu)點 |
<200um 光斑 | 適用于小晶粒的多晶結(jié)構(gòu) |
大范圍電動線性掃描位移臺 | 允許自動晶圓mapping或多個樣品 |
電動Z 軸驅(qū)動 | 適用大尺寸晶棒或樣品 |
手動角位移 | 允許定位到+/- 0.02度精度 |
配備PSEL CCD 背反射勞厄X-RAY 探測器:

勞厄影像校準軟件:

系統(tǒng)附件包括:
典型勞厄衍射應用圖樣:



勞厄單晶取向測試系統(tǒng)應用方向:
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